国家知识产权局信息显示，杭州华罡智能科技有限公司申请一项名为“一种超级电容测试方法、系统、终端及存储介质”的专利，公开号CN122568110A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本申请涉及一种超级电容测试方法、系统、终端及存储介质，涉及电容测试的技术领域，包括采集超级电容的测试模式；判断测试模式为预设的手动模式或预设的自动模式；若为自动模式，则采集超级电容的具体使用场景；根据具体使用场景控制预设的测试装置对超级电容进行测试，并采集实时测试参数；若为手动模式，则采集设置充放电参数；根据设置充放电参数控制预设的测试装置对超级电容进行测试，并采集实时测试参数；将实时测试参数输出进行显示。本申请具有提高超级电容测试的精确性的效果。

来源：国家知识产权局